ALS920D SECM走査型電気化学顕微鏡

特長
測定原理
仕様
テクニック一覧
応用例

電極表面研究
生体、細胞サンプル
半導体の表面分析
腐食研究
液界面間のイオン移動研究
膜特性研究

新しい電気化学の世界が広がる

1989年に紹介された走査型電気化学顕微鏡（Scanning electro-chemical microscopy, SECM）は界面近傍の化学的な変化を高解像度で観察するための装置です。サンプル表面の近傍をスキャンして微小探針で起こる反応を画像化します。SECMは表面の化学物質の反応像、反応速度の定量を行なうために使用します。応用分野としては腐食研究、細胞膜の研究、液液界面の研究に用いられており、更に用途が広がってます。

探針を基板上の任意の高さに設定し、二次元方向に走査します。コンピューター制御にて走査位置、電気化学測定、データ解析を行うことができます。

SECMのプローブを用いてサンプル計測する原理を下記に示します。

A.探針を基板から遠ざけると、探針電流は定常状態になります。

B.探針を絶縁基板に近づけると、Oの拡散が妨げられiT≤iT ∞

C.探針が導電性基板に近づくと、Oのポジティブフィードバックにより、iT≥iT ∞

A、B、Cの電流応答を定量的に解析できます。基板表面の電気化学反応をイメージできます。

マイクロポジショナー
X,Y,Y解像度	1.6 nm以上
X,Y,Z移動距離	2.5 cm（オプション5.0 cm）
大きさ（W×D×H）	33 × 30 × 13 cm
重さ	7.5 kg
バイポテンショスタット
ポテンシャル範囲	±10 V
電流範囲	±250 mA
出力電圧	±13 V
感度範囲	1×10-12 ～ 0.1 A/V
入力インピーダンス	1×1012 Ω
最小電位分解能	100 µV
最大サンプリング速度	16bit @ 1 MHz
バックグラウンド電流	< 20 pA
電流分解能	0.01 pA
スキャン速度 CV	1×10-6 ～ 10,000 V/sec
パルス幅 CA, CC	0.0001 ～ 1,000 sec
パルス幅 DPV, NPV	0.0001 ～ 10 sec
周波数 SWV	1 ～ 100 kHz
周波数 IMP	1×10-5 ～ 1 MHz
iR補償機能	◯
対応OS	WindowsTM 10※ / 11
インターフェース	USB 2.0
大きさ（W×D×H）	330 × 300 × 130 mm
重さ	5.4 kg
ステージ
駆動方式	モデル900D：ステップモーター
駆動方式	モデル920D：ステップモーター＋ピエゾ
大きさ（W×D×H）	24 × 28 × 28 cm
重さ	7.0 kg
その他
表示	リアルタイム絶対、相対距離
表示	リアルタイムプローブ、差分電流

※Windows™ 10 Sモードには対応しておりません。Sモードの場合は、解除を行ってください。
　また、対応するのはマイクロソフト社がサポート中のバージョンのみです。

走査プローブテクニック	プローブ走査曲線（X,Y,Z）
	プローブ接近曲線
	走査型電気化学顕微鏡
	表面パターン処理
Sweep Techniques	CV, LSV
Step and Pulse Techniques	CA, CC, DPV, NPV, SWV
Galvanostatic Techniques	CP, MCS, PSA
その他テクニック	i-t, DPA, TPA, BE, ポテンショメトリー

モデル名をクリックするとWEB見積書に自動入力できます

テクニック	900D	920D
CV	●	●
LSV	●	●
SCV	●	●
TAFEL	●	●
CA	●	●
CC	●	●
DPV	●	●
NPV	●	●
SWV	●	●
ACV	●	●
i-t	●	●
SHACV	●	●
DPA	●	●
DDPA	●	●
TPA	●	●
IPAD	●	●
BE	●	●
HDV	●	●
IMP	●	●
IMPT	●	●
IMPE	●	●
CP	●	●
CPCR	●	●
PSA	●	●
OCPT	●	●
SSF	●	●
STEP	●	●
ISTEP	●	●
RDE	●	●
Full CV Sim	●	●