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CVS測定
CVS（繰返しサイクリックボルタンメトリーストリッピング法）は、電位スキャン時に電極にメッキする金属が析出または剥離が起こり、その量比の変化を調べる方法です。CVSテクニックは回転ディスク電極を用いることにより、電極表面に新鮮なメッキ液を供給し、電極に直接金属をメッキさせ、その剥離量からメッキの状態を調べることができます。剥離量は剥離面積、回転速度に依存します。
上図は硫酸銅溶液をCVSにより測定したボルタモグラムです。メッキ液中の光沢剤、抑制剤を添加することにより、クーロン量は、作用電極に析出した銅の量に比列します。
